只要您有任何找不到的型号，都可以找我们
全国免费咨询热线：
联系邮箱：
手机：+86 153 5902 9662
邮箱：geabbamy@gmail.com
IC693CPU374 数字系统以合理的稳定性进行控制
IC693CPU374 数字系统以合理的稳定性进行控制
在一般的电子工作中，例如数字万用表 (DMM) 和数字存储示波器 (DSO) 等电子测试设备的设计，采样率必须相当快。现代数字示波器的采样率可能达到每秒数十亿个样本，以实现射频模拟信号的成功数字化。
值得庆幸的是，工业过程测量比通常在电子技术人员的工作台上进行的测量要宽容得多。如果需要，可以以每分钟一次的速率对大型炉子的温度进行充分采样。即使是“快速”反馈过程，如液体流量和压力控制，也可以通过每秒仅采样几次的数字系统以合理的稳定性进行控制。
太慢（不频繁）的采样率可能以不止一种方式对测量或控制系统产生不利影响。首先，样本之间的时间是系统的死区时间：在此期间数字系统将完全不响应过程测量中的任何变化。警报系统中过长的死区时间意味着警报事件和警报信号之间不必要的时间延迟。反馈控制回路中过长的死区时间会导致振荡和不稳定。低采样率的另一个不利影响称为混叠：数字系统“认为”模拟信号的频率远低于实际频率的情况。
YYT107A
3ASD573001A13
YB560100-EA S3
XO16N1-B20 XO16N1-C3.0
XO16N1-B20
XO16N1-C3.0
XM06B5
TC625
TU804-1
TU515
TK516
TC630
PM632
PS130/6-75-P
PM645B
PM633
PM630
PM510V16
P-HA-RPS-32200000
NAIO-03
SAFT110
SAFT103
SA801F
3BDH000011R1
RVC6-5A
RF615
PU517
咨询：IC693CPU374 数字系统以合理的稳定性进行控制
